ООО "ФОРМ"

Система контрольно-измерительная тестер FORMULA 2K для функционального и параметрического контроля БИС и ИМС, цифровых, аналоговых и цифро-аналоговых микросхем малой и средней степени интеграции, а также микросхем памяти

Система контрольно-измерительная тестер СБИС FORMULA HF3 для функционального и параметрического контроля быстродействующих СБИС широкой номенклатуры: микроконтроллеров, статической и динамической памяти (ЗУ), СБИС на БМК, ASICs, ПЛИС и др. с числом сигнальных выводов до 256 и частотой функционирования до 200 МГЦ

Система контрольно-измерительная тестер СБИС FORMULA HF3-512 для функционального и параметрического контроля быстродействующих СБИС широкой номенклатуры: микроконтроллеров, статической и динамической памяти (ЗУ), СБИС на БМК, ASICs, ПЛИС и др. с числом сигнальных выводов до 512 и частотой функционирования до 200 МГЦ

Система контрольно-измерительная тестер СБИС FORMULA HF3M для функционального и параметрического контроля быстродействующих СБИС широкой номенклатуры: микроконтроллеров, статической и динамической памяти (ЗУ), СБИС на БМК, ASICs, ПЛИС и др. с числом сигнальных выводов до 256 и частотой функционирования до 200 МГЦ

Система контрольно-измерительная тестер СБИС FORMULA HF3M-512 для функционального и параметрического контроля быстродействующих СБИС широкой номенклатуры: микроконтроллеров, статической и динамической памяти (ЗУ), СБИС на БМК, ASICs, ПЛИС и др. с числом сигнальных выводов до 512 и частотой функционирования до 200 МГЦ

Система контрольно-измерительная тестер СБИС ЗУ FORMULA HF ULTRA для функционального и параметрического контроля ультравысокочастотных СБИС с числом сигнальных выводов до 1024 и частотой функционирования до 550МГЦ

Система контрольно-измерительная тестер полупроводниковых приборов FORMULA TT2 для комплексной автоматизированной проверки статических параметров полупроводниковых приборов: полевых и биполярных транзисторов, диодов, тиристоров, стабилитронов, оптронов, а также микросборок

Система контрольно-измерительная тестер полупроводниковых приборов FORMULA TT3 для комплексной автоматизированной проверки статических параметров полупроводниковых приборов: полевых и биполярных транзисторов, диодов, тиристоров, стабилитронов, оптронов, микросборок, а также: • Измерение емкости: входной, проходной, выходной для полевых транзисторов, • Измерение заряда: затвор-сток, затвор-исток и полного заряда для полевых транзисторов, • Измерение параметров пассивных компонентов (L,C,R)

Система контрольно-измерительная тестер реле FORMULA R для комплексной проверки параметров слаботочных одно- и двустабильных электромагнитных реле постоянного тока, имеющих до 8 обмоток и до 12 контактных групп